當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 晶圓缺陷檢測(cè) > LAZIN > LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置
簡(jiǎn)要描述:LODAS™ – BI12是列真株式會(huì)社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
列真株式會(huì)社自創(chuàng)業(yè)以來,秉承“挑戰(zhàn)"、“創(chuàng)造"、“誠(chéng)實(shí)"的經(jīng)營(yíng)理念,為顧客提供可靠、可信的產(chǎn)品和服務(wù)。運(yùn)用激光掃描技術(shù),專門制造、銷售半導(dǎo)體材料表面及內(nèi)部檢查、石英玻璃表面檢查等檢查裝置。
特征:
Glass Wafer的出貨檢查、過程評(píng)價(jià)
可同時(shí)檢查表面,背面和內(nèi)部的缺陷
用微分干涉顯微鏡判斷、分析表面和背面的缺陷
檢查對(duì)象:12inch、8inch、6inch、Glass Wafer
檢查項(xiàng)目:表面和背面的顆粒、內(nèi)部缺陷
定期支持裝置安裝完成后的性能維持。
24小時(shí)電話對(duì)應(yīng),全年無休的安心支持。
認(rèn)真對(duì)待客戶新的要求。
召開技術(shù)研討會(huì)和充實(shí)各種手冊(cè),讓顧客能夠自行維護(hù)和更換零件。
提供HDD、激光光源等消耗品的免費(fèi)診斷服務(wù)。
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